嚗輻量計(jì)適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規(guī)模集成電路光刻領(lǐng)域的紫外曝輻量和輻照度測(cè)量。

產(chǎn)品型號(hào)：LYCN—Ⅱ
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2024-08-30
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嚗輻量計(jì)主要性能和技術(shù)指標(biāo)1. 波長(zhǎng)范圍及峰值波長(zhǎng)：UV-365探頭： 320—400nm 峰值波長(zhǎng)365nm UV-420探頭： 375—475nm 峰值波長(zhǎng)420nm 2. 測(cè)量范圍：曝輻量：0.1 — 9999999 mJ/cm²

輻照度：0.1 — 300.0 mW/cm²

3. 紫外帶外區(qū)雜光：小于0.02% 4. 余弦特性：符合國(guó)家二級(jí)光照度標(biāo)準(zhǔn)

5. 準(zhǔn)確度：±5% （相對(duì)于NIM標(biāo)準(zhǔn)）

6. 響應(yīng)時(shí)間：＜0.1s 7. 使用環(huán)境：溫度20±20℃；濕度＜85%8. 尺寸和重量： Φ136mm×17mm ；0.5 Kg

9. 電源： 3.7V鋰離子手機(jī)電池

嚗輻量計(jì)適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規(guī)模集成電路光刻領(lǐng)域的紫外曝輻量和輻照度測(cè)量。

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嚗輻量計(jì)適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規(guī)模集成電路光刻領(lǐng)域的紫外曝輻量和輻照度測(cè)量。

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