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四探針儀器和探頭、測試臺特點與選型參考

更新時間:2012-10-16      瀏覽次數(shù):2300

測試儀器的選擇 

     M-2型是手持式,可充電電池供電,適合變動場合操作!儀器所有參數(shù)設定、功能轉(zhuǎn)換全部采用一旋鈕輸入;具有零位、滿度自校功能;自動轉(zhuǎn)換量程;
     ST2258A多功能數(shù)字式四探針測試儀是小型化全自動量程,并帶自動分選材料功能,特別適合半導體材料或低電阻器件生產(chǎn)線上批量材料檢測和分選;
    ST2253數(shù)字式四探針測試儀是帶PC機軟件,可在PC機上顯示,分析,保存,打印數(shù)據(jù)!特適合實驗室,品管部門做分析研究用!
測試探頭的選擇
  尖頭鎢針探頭(ST2253-F01型)適合測試單晶硅等硬質(zhì)半導體樣品材料
  球形鍍金合金探頭(ST2258B-F01型)適合測試柔性涂層或薄膜類樣品材料!
測試臺的選擇
  SZT-A型手動測試臺,對樣片的測試壓力可由手動自由控制,結構小巧,簡便快捷,
   SZT-B型電動測試臺(手/自一體化),自動檔,測試壓力適中恒定,特別適用于初次接觸此類儀器,對測試壓力難以手工掌  握,易損壞樣品的場合。也可手動檔自由調(diào)節(jié)測試壓力!
   SZT-C 快速恒壓測試臺,SZT-A型手動測試臺改進型,對樣片的測試壓力可由手動自由調(diào)節(jié)后并恒定,結構小巧,簡便快捷,
   SZT-D型半導體粉末電阻率測試臺,集測試臺和探頭與一體,
   SZT-E型半導體材料四端子測試臺,集測試臺和探頭與一體,
   SZT-F型太陽能電池片方阻測試臺,遮光測試,簡便快捷!

                                     文章來源:北京綠野創(chuàng)能機電設備有限公司

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