熱門搜索: CH-3A玻璃瓶壁厚底厚測定儀 CH-3A玻璃瓶壁厚測定儀 DTS-II可油水分離電脫水儀 KSD-VI活性炭填裝密度測試儀 KSD-VI活性炭裝填密度測試儀 CH-3A霍爾效應(yīng)測試儀 CH-3A磁性玻璃瓶測厚儀 DTS-6可控溫石油含水電脫分析儀 DTS-6可定時石油含水電脫分析儀 CH-3A霍爾效應(yīng)測厚儀 LW-4D水泥桿便攜式伺服加載試驗裝置 LH-4荷載力學(xué)儀擾度計 LH-4電桿荷載撓度測試儀帶支架 LW-4無線電桿荷載撓度儀 LW-4無線電桿荷載撓度測試儀 SBQ81834藥物粘度測試儀

PRODUCT CLASSIFICATION

產(chǎn)品分類

技術(shù)文章/ Technical Articles

您的位置:首頁  /  技術(shù)文章  /  晶閘管測試儀用于測試晶閘管及其相關(guān)元件的參數(shù)

晶閘管測試儀用于測試晶閘管及其相關(guān)元件的參數(shù)

更新時間:2024-11-18      瀏覽次數(shù):115
  晶閘管測試儀是一種專門用于測試晶閘管(可控硅)及其相關(guān)元件的參數(shù)的儀器。以下是關(guān)于晶閘管測試儀的一些詳細信息:
  1.測試對象
  普通可控硅:也稱為單向可控硅,主要用于直流電路的控制。
  雙向可控硅:可以在兩個方向上控制電流,常用于交流電路的控制。
  快速可控硅:具有更快的開關(guān)速度,適用于高頻應(yīng)用。
  可控硅模塊:將多個可控硅集成在一個模塊中,便于安裝和使用。
  2.測試參數(shù)
  晶閘管測試儀可以測試以下參數(shù):
  觸發(fā)電壓(V_GT):使晶閘管從阻斷狀態(tài)變?yōu)閷?dǎo)通狀態(tài)所需的最小電壓。
  觸發(fā)電流(I_GT):使晶閘管觸發(fā)所需的最小電流。
  維持電流(I_H):保持晶閘管導(dǎo)通所需的最小電流。
  斷態(tài)重復(fù)峰值電壓(V_DRM):晶閘管在阻斷狀態(tài)下能承受的最大電壓。
  通態(tài)平均電流(I_T(AV)):晶閘管在導(dǎo)通狀態(tài)下能承受的平均電流。
  正向壓降(V_F):晶閘管在導(dǎo)通狀態(tài)下的電壓降。
  反向漏電流(I_R(RMS)):晶閘管在阻斷狀態(tài)下的反向泄漏電流。
  開關(guān)時間(t_ON,t_OFF):晶閘管從阻斷到導(dǎo)通以及從導(dǎo)通到阻斷所需的時間。
  3.晶閘管測試儀使用方法
  連接測試夾:將測試儀的測試夾連接到晶閘管的相應(yīng)引腳上。通常,測試儀會標明哪個夾子連接到陽極、陰極和門極。
  選擇測試模式:根據(jù)被測晶閘管的類型(如單向、雙向或快速可控硅),選擇合適的測試模式。
  開始測試:啟動測試儀,按照儀器的指示進行操作。測試儀會自動或手動測量上述參數(shù),并將結(jié)果顯示在屏幕上。
  記錄結(jié)果:記錄測試結(jié)果,以便后續(xù)分析或比較。
  4.注意事項
  安全操作:在測試過程中,確保遵循所有安全操作規(guī)程,避免觸電或損壞儀器。
  正確連接:確保測試夾正確連接到晶閘管的引腳上,避免誤接導(dǎo)致測試不準確或損壞儀器。
  環(huán)境條件:在適當(dāng)?shù)沫h(huán)境條件下進行測試,避免高溫、高濕或強磁場等不利因素對測試結(jié)果的影響。
  定期校準:定期校準測試儀,以確保測試結(jié)果的準確性。

 

 

微信掃一掃

郵箱:lvyechuangneng@163.com

傳真:

地址:北京市門頭溝區(qū)齋堂鎮(zhèn)LZTC005號

Copyright © 2024 北京綠野創(chuàng)能機電設(shè)備有限公司版權(quán)所有   備案號:京ICP備11038638號-1    技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng)

TEL:13661171160

掃碼加微信